X 射线荧光分析仪：原理与核心公式解析

激发过程：入射 X 射线（初级 X 射线）能量需大于样品原子内壳层（如 K、L 层）电子的结合能，才能将电子击出形成空穴。例如，K 层电子被击出后，L 层电子会跃迁至 K 层，释放的能量以荧光 X 射线形式辐射。

荧光特性：荧光 X 射线的能量具有元素性，满足公式 \( E = h\nu = \frac \)（\( h \) 为普朗克常数，\( \nu \) 为频率，\( c \) 为光速，\( \lambda \) 为波长），通过检测能量或波长可定性判断元素种类；荧光强度与元素含量正相关，是定量分析的基础。二、核心公式

莫塞莱定律（定性核心）：描述元素原子序数（\( Z \)）与荧光 X 射线波长（\( \lambda \)）的关系，公式为：\( \sqrt} = K(Z - \sigma) \)

定量分析公式：荧光强度（\( I \)）与元素含量（\( w \)）的线性关系为：\( I = k \cdot w \cdot \frac \)